W stolicy zaczęli obrady metrolodzy
Wczoraj rozpoczęła się w auli Gmachu Głównego Politechniki Warszawskiej w Warszawie Krajowa Wystawa Metrologii 2001, połączona z Krajowym Kongresem Metrologii. Wystawa i kongres włączone są w cykl obchodów 175-lecia studiów technicznych w Warszawie.
Celem wystawy jest prezentacja aparatury pomiarowej, oprogramowania i wydawnictw przeznaczonych do badań naukowych, zastosowań w przemyśle i gospodarce komunalnej, a także wykorzystywanych w dydaktyce.
Kongres jest cyklicznie organizowaną, największą krajową imprezą integrującą środowisko metrologów oraz specjalistów z wielu obszarów nauki, techniki i przemysłu, zajmujących się techniką pomiarową. Oficjalnym sponsorem imprezy została firma Tektronix, producent i dostawca aparatury kontrolno-pomiarowej i monitorującej dla globalnych sieci telekomunikacyjnych. Organizatorzy zaprosili specjalistów z różnych dziedzin metrologii, którzy zaprezentują ponad 200 referatów przeglądowych.
W tym roku kongres i wystawa odbywają się pod patronatem Komitetu Metrologii i Aparatury Pomiarowej PAN, Polskiego Stowarzyszenia Pomiarów, Automatyki i Robotyki Polspar oraz Głównego Urzędu Miar. Honorowy patronat nad kongresem objął rektor Politechniki Warszawskiej. Impreza potrwa do 27 czerwca.